什么是双梳光谱？

光梳的纵模以非常精确的间隔规则排列。这些纵模之间的间隔非常窄，为几十MHz，并且不可能使用频谱分析仪等传统设备来分离和测量每个分量。然而，使用双梳光谱这是可能的。当来自重复频率（f_1，f_2）略有不同的两个光梳的光发生干涉时，由于频率差而出现“光拍”。测量光拍的测量方法称为光外差法，但双梳光谱法是对光梳所拥有的所有光谱同时进行光外差法的方法。这种重叠光拍的信号称为干涉图，它包含两个光梳所拥有的所有波长分量的信号。通过对干涉图进行傅里叶变换，将其转换为频率信息，一次测量即可获得光梳各频率分量的强度。