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京都玉崎株式会社
深圳市京都玉崎电子有限公司
Tel:0755-28578111
Fax:0755-28578000
Email:info@tamasaki.com
光学外差微振动测量装置
光学外差微振动测量装置
概述/规格
一种利用激光多普勒效应
测量微小振动的频率和振幅的装置。
响应频率
1~200MHz
最大测定速度
5m/秒
测量光斑
直径
约φ10μm
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