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京都玉崎株式会社
深圳市京都玉崎电子有限公司
Tel:0755-28578111
Fax:0755-28578000
Email:info@tamasaki.com
磁光效应测量装置 分光克尔/法拉第效应测量装置
关于本产品
■特点/应用
・利用白光评价磁光效应的波长依赖性(光谱)的分光测量装置。
・使用多通道光谱仪实现高速测量(光谱测量时间小于5分钟)
・可测量磁滞回线的波长依赖性
型号
该产品有 1 个型号
系列
磁光效应测量装置 分光克尔/法拉第效应测量装置
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激光打标 小型LD打标 DMGS系列
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