克尔环/磁域同时评估装置
克尔环/磁域同时评估装置
概述/规格
| 测量方向 | 面内/垂直方向 |
|---|---|
| 使用的光源 | 半导体激光/白光光源 *激光波长可协商 |
| 空间分辨率 | <Φ2μm *使用50倍物镜时 |
| 最大施加磁场 | 10kOe (1T) *其他外加磁场如20kOe可协商。 |
特点/应用
可以利用克尔效应同时获取磁滞回线和磁域图像的混合设备
切换机制允许测量面内磁化材料和垂直磁化材料。
物镜放大倍数、激光光源波长和施加的磁场是可以协商的。
*我们接受测试测量/观察。